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當前位置:首頁產品中心電鏡制樣設備UFM-2000精密離子減薄儀UFM-2000精密離子減薄儀

精密離子減薄儀

產品簡介

離子減薄儀是一種利用氬離子束在真空中轟擊樣品,使其逐漸變薄至電子束可穿透的厚度(約幾十至一百納米)的精密制樣設備,專為透射電子顯微鏡(TEM)觀測而設計。

產品型號:UFM-2000
更新時間:2026-07-29
廠商性質:生產廠家
訪問量:2405
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  精密離子減薄儀利用聚焦氬離子束 對樣品上下表面同時進行轟擊,利用動量交換方式實現對樣品進行精細減薄,獲得滿足電子束穿透厚度的薄區供透射電鏡觀察。
 
  邁科英諾型號UFM-2000精密離子減薄儀采用電磁及永磁體結合雙聚焦離子槍設計,高電壓離子束散開獲得更大薄區,低電壓匯聚提高精修效率。可選配液氮冷臺,去除離子束制樣高溫帶來的相變、缺陷遷移、優先減薄等人為干擾,滿足溫度敏感材料制樣需求。10英寸全觸屏控制,支持配方式操作,大大降低對使用人員的經驗要求。通過配備的專業光學顯微鏡,可實現對制樣過程實時監控和判斷。
 
  技術優勢
 
  ◆ 聚焦離子束:永磁體聚焦結合電磁聚焦,離子槍無耗材;
 
  ◆ 束斑調節功能:通過調節束斑尺寸可滿足大薄區制樣及快速精修;
 
  ◆ 定點減薄:配備X/Y方向定點減薄夾具,千分尺精確控制。
 
  主要應用
 
  ◆ 陶瓷 ◆ 玻璃 ◆ 地質 ◆ 半導體 ◆ 金屬及合金
 
精密離子減薄儀
     
精密離子減薄儀
離子減薄裝樣器及標準夾式樣品臺
 
 

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